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Cover of Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme Für Die Gut-Schlecht-Prüfung

Adaptive Bayes'sche Stichprobensysteme Für Die Gut-Schlecht-Prüfung

by Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz

Physica-Verlag

₹3,508

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From the publisher

In der Praxis tritt häufig der Fall auf, da eine ganze Folge von Warenlosen des gleichen Artikels vom gleichen Anlieferer zu kontrollieren ist bzw. zur Zwischenkontrolle oder Endkontrolle vorgelegt wird. In dieser Situation existieren meistens ziemlich genaue Kenntnisse über Prüf-, Ersatz- und Garantiekosten eines Einzelstücks sowie Fixkosten für die Prüfung eines Loses.

Description supplied by the publisher.

Book details

ISBN-13
9783790804683
ISBN-10
3790804681
Authors
Ulrich Rendtel, Hans-Joachim Lenz
Condition
New
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